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非接触式涂层测量系统优化涂层测量工艺

发布时间:2008-02-20 作者: 来源: 浏览:609

       美国新喀里多尼亚州Greensboro消息,非接触式涂层测量方案提供商Sensory Analytics,其涂层测量系统Spec Metrix?日前活了由美国《Finishing Today》(今日表面处理)科技期刊颁发的2007年度测量设备创新贡献奖。

      美国《Finishing Today》期刊每年都会对表面处理和涂料涂装行业的技术和产品进行评选,从中挑选出具有创新价值的技术和产品。

      “我们非常荣幸获得《Finishing Today》的创新奖项,Spec Metrix?涂层测量科技是我们为涂料和表面处理行业开发的涂层测试解决方案。”Sensory Analytics公司CEO Greg Frisby介绍说“Spec Metrix?的创新之处在于它的测量方式采用非接触式,也就是说测量设备不必接触需要测量的涂层,就可完成涂层厚度等技术参数的测定,这一技术可以大大简化现有的测试条件,尤其是对罐装容器内壁、消费品包装材料、航天设备等涂层测量非常有效,它优化了测量工艺,并且降低了测量成本。”

      Sensory Analytics开发的涂层测量系统采用实时测量模式,即测即得,第一时间获得数据,不许对样品进行任何的加工和处理,并且因为采用了非接触式测量方式,对涂层也不会造成任何的破坏和损伤。Sensory Analytics的涂层测量系统已经注册了专利技术,并且该系统有软件Sensor Metric?作为支持,方便技术工程师及时获得技术参数并加以分析。

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